PEM5113 - Técnicas Avançadas de Aquisição e Análise de Dados na Difratometria de Raios-X
Docente Responsável
Prof. Dr. Paulo Atsushi Suzuki,
Prof. Dr. Fernando Vernilli Junior
Carga Horária
| Teórica |
Prática |
Estudos |
Duração |
Total |
Créditos |
| 2 h/sem |
0 h/sem |
4 h/sem |
15 semanas |
90 horas |
6 |
Ver no Janus
Área de concentração
97134 - Materiais Convencionais e Avançados
Objetivos
Apresentar e aprofundar o conhecimento sobre as técnicas de aquisição de dados estruturais e interpretação de difratogramas, a partir dos quais são determinados os parâmetros estruturais de materiais.
Justificativa
Uma melhor compreensão da estrutura cristalina de materiais e a sua relação com as propriedades (mecânicas, térmicas, elétricas, magnéticas, ópticas) requer a utilização de técnicas aprimoradas de aquisição de dados de qualidades superiores e de interpretação dos resultados obtidos por difratometria de raios X.
Conteúdo
- A estrutura cristalina: rede, base, grupo espacial.
- A técnica de difratometria de raios X.
- Estratégia para a coleta de dados de boa qualidade. Uso da radiação síncrotron. Método de padrão interno.
- Fatores relacionados com as intensidades: fator de estrutura, fator de multiplicidade, fator de Lorentz-Polarização, fator de Debye-Waller.
- Funções que modelam: o ruído de fundo, perfil das reflexões, rugosidade superficial, orientação preferencial.
- Refinamento de estrutura cristalina. O método de Rietveld. Parâmetros refináveis. Interpretação dos resultados. Fatores de concordância. Exemplos de refinamento. Análise quantitativa.
Forma de Avaliação
Aplicação de uma única prova prática com o uso de computador, que consiste no refinamento de uma estrutura cristalina a partir de um difratograma usando o métod
Observação
Recomenda-se que o aluno tenha cursado previamente a disciplina Cristalografia e Difração de Raios X (PEM5106)
Referências bibliográficas
- B. D. Cullity e S. R. Stock, Elements of X-Ray Diffraction, 3rd ed., Prentice Hall, New Jersey (2001).
- H. P. Klug e L. E. Alexander, X-Ray Diffraction Procedures for Polycrystalline and Amorphous Materials, John Wiley, New York (1974).
- V. K. Pecharsky, Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials, Springer, New York (2005).
- A. Craievich (ed.), Synchrotron Light: Applications and Related Instrumentation, v.1 e 2, World Scientific (1989).
- R. A. Young (ed.), The Rietveld Method, International Union of Crystallography, Oxford University Press (1993).
- C. O. Paiva-Santos, Aplicações do Método de Rietveld, Apostila, UNESP - Araraquara / SP.